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  • D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀:符合ASTM C1371、JG/T 235-2014

    D&S AE1/RD1發(fā)射率測量儀:符合ASTM C1371、JG/T 235-2014

    2025-04-16

    D&S AE1/RD1 半球發(fā)射率測量儀是一款專門設(shè)計用于測量材料的半球發(fā)射率的儀器,符合 ASTM C1371 標準。該儀器由兩部分組成:AE1 發(fā)射率計和 RD1 數(shù)字電壓計。它為實驗室提供了一個高效、精確且經(jīng)濟的解決方案,能夠快速、準確地測量各種材料的半球發(fā)射率。

  • 高溫動態(tài)加熱材料輻射率測量:傅里葉紅外FTIR光譜儀、黑體爐

    高溫動態(tài)加熱材料輻射率測量:傅里葉紅外FTIR光譜儀、黑體爐

    2025-03-26

    輻射率是衡量材料熱輻射能力的重要參數(shù),是材料發(fā)射的輻射能量與理想黑體在相同溫度下發(fā)射的輻射能量之比。傳統(tǒng)的輻射率測量方法大多應用于靜態(tài)加熱條件下,但在飛行器的動態(tài)熱負荷條件下,這種方法往往無法滿足高精度測量的要求。因此,本文提出了一種基于

  • ?Mikron M330 進口黑體爐——高溫黑體輻射源,300°C至1700°C

    ?Mikron M330 進口黑體爐——高溫黑體輻射源,300°C至1700°C

    2025-03-21

    Mikron M330-US / M330-EU 是一款先進的高溫黑體輻射源,廣泛應用于紅外溫度傳感器、紅外熱像儀、光譜儀、高能光子發(fā)生器、太陽輻射模擬及光學高溫計等領(lǐng)域。它具有廣泛的溫度范圍(300°C至1700°C,572°F至3092°F),并提供精確的溫控系統(tǒng),滿足高標準的質(zhì)量控制要求。

  • 外場紅外靶標測試系統(tǒng):最小可分辨溫差(MRTD)測試

    外場紅外靶標測試系統(tǒng):最小可分辨溫差(MRTD)測試

    2025-03-19

    DT系統(tǒng)采用高度模塊化設(shè)計,能夠在實驗室及外場環(huán)境下對幾乎所有類型的熱成像設(shè)備進行廣泛測試,涵蓋最小可分辨溫差(MRTD)、噪聲等效溫差(NETD)、調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)等多達二十余種核心性能參數(shù)。

  • INFRAMET VSB真空面源黑體,模擬太空環(huán)境條件下的紅外測試系統(tǒng)

    INFRAMET VSB真空面源黑體,模擬太空環(huán)境條件下的紅外測試系統(tǒng)

    2024-12-23

    在將紅外系統(tǒng)送入太空之前,通常需要在冷卻真空艙中使用黑體進行測試,以模擬太空環(huán)境。VSB黑體是一種新型黑體,由Inframet推出,專為空間實驗室需求設(shè)計,能夠在太空環(huán)境條件下工作,并通過艙外PC進行遠程控制。其發(fā)射器尺寸范圍為50x50mm到150x150mm,溫度通過加熱元件調(diào)節(jié),穩(wěn)定性由超精密算法實現(xiàn)。VSB黑體還與MRW-8旋轉(zhuǎn)輪協(xié)同工作,適用于模擬低至中等溫度目標。真空黑體源通過將黑體置于真空腔室中,減少空氣對流和熱傳導的影響,提供更純凈的熱輻射信號,廣泛用于紅外探測設(shè)備的校準、航天設(shè)備的標定、熱成像系統(tǒng)性能測試及材料熱輻射特性研究。

  • 硅片專用測溫儀-Impac IS 50-Si-LO plus

    硅片專用測溫儀-Impac IS 50-Si-LO plus

    2024-11-15

    碳化硅(SiC)因其優(yōu)異的高溫和低溫工作性能在半導體領(lǐng)域備受關(guān)注。作為一種寬禁帶半導體,碳化硅在極端溫度下仍能保持良好的電氣性能,具有廣泛的應用前景。溫度變化會影響碳化硅片的物理、化學和電學性能,高溫下其熱膨脹、硬度及機械性能改變,低溫時則收縮、變脆。Impac IS 50-Si-LO plus測溫儀適用于硅片測量,測溫范圍為400-1600°C,配備光纖及可更換測頭,不受電磁干擾,耐溫高達250°C,并可根據(jù)測量距離選擇不同測頭,實現(xiàn)小光斑尺寸測量。

  • 一文讀懂INFRAMET熱像儀測試系統(tǒng)如何選型!

    一文讀懂INFRAMET熱像儀測試系統(tǒng)如何選型!

    2024-11-11

    Inframet熱像儀測試系統(tǒng)包括三種類型:可變目標測試系統(tǒng)、可變距離測試系統(tǒng)以及可變目標/距離測試系統(tǒng)??勺兡繕藴y試系統(tǒng)穩(wěn)定性高,測量精度好,但尺寸大,不便在實驗室外使用??勺兙嚯x測試系統(tǒng)設(shè)計緊湊,便于現(xiàn)場測試,但需要大黑體和大目標,且測試程序不如可變目標系統(tǒng)用戶友好??勺兡繕?距離測試系統(tǒng)結(jié)合前兩者優(yōu)點,成本低、質(zhì)量輕,但僅適用于測試短焦距熱成像儀。

  • 高溫燒結(jié)爐測溫解決方案:IMPAC ISR 6 測溫儀

    高溫燒結(jié)爐測溫解決方案:IMPAC ISR 6 測溫儀

    2024-11-08

    燒結(jié)爐是一種通過高溫將粉狀或細顆粒狀物料加工成固體材料的工業(yè)設(shè)備,廣泛應用于鋼鐵、冶金和新材料行業(yè)。爐膛工作溫度范圍為1000℃-2200℃,測量和控制溫度可采用熱電偶或輻射高溫計。低溫區(qū)使用熱電偶,高溫區(qū)使用光學測溫計,測量溫度可達3500℃。IGA 320/23和ISR 6 Advanced是兩款適用于不同溫度區(qū)的紅外測溫儀,分別適合低溫區(qū)和高溫區(qū)燒結(jié)爐使用。紅外測溫儀相比熱電偶具有非接觸測量、響應速度快、測溫范圍廣等優(yōu)勢,但價格較高,需根據(jù)實際需求選擇。

  • 選擇紅外測溫儀時,為何要考慮響應時間?

    選擇紅外測溫儀時,為何要考慮響應時間?

    2024-11-08

    紅外測溫儀的響應速度決定了其捕捉溫度瞬間變化的能力,響應時間通常定義為到達后讀數(shù)的95%能量所需時間。新型紅外測溫儀的響應時間可達1ms,遠快于接觸式測溫方法。例如,Impac IGA 740測溫儀具有6微秒的超快響應時間,適用于測量快速移動物體和快速溫度變化。然而,并非所有應用都需要快速響應的紅外測溫儀,對于靜止目標或存在熱慣性的熱過程,響應時間要求可以放寬。因此,選擇紅外測溫儀時應考慮被測目標的具體情況。

  • 超高溫的石墨化爐測溫解決方案:IMPAC ISR 12-LO測溫儀

    超高溫的石墨化爐測溫解決方案:IMPAC ISR 12-LO測溫儀

    2024-11-08

    石墨化爐的工作溫度通常在2500°C以上,最高可達3200°C。紅外測溫探頭通過窗口實時觀測爐內(nèi)溫度,雙色紅外測溫儀因其抗煙霧和粉塵干擾的能力而被推薦。便攜式測溫儀也可用于測量高達3000℃的溫度。紅外測溫儀是非接觸式溫度測量工具,適用于高溫環(huán)境,如石墨化爐。ISR 12-LO是一款高精度的雙色測溫儀,測量溫度可達3300℃,不受灰塵和污染物影響,具有單色、雙色和金屬模式,適用于不同測量需求。